由於工研院功率模組測試實驗室已通過財團法人全國認證基金會(TAF)認證，是亞洲第一個國際認證的功率模組測試平台，能夠提供國內外廠商作檢測服務，本技術研討會將針對功率模組相關技術，包括電性、熱阻、可靠度與IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor)結構分析技術等作一系列探討，在此，我們誠摯邀請您撥冗參加此盛會，以進一步瞭解應用範圍非常廣泛的功率模組技術！
【議 程】
【議程】
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時 間
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研 討 主 題
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主 講 人
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13:10~13:30
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報到
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13:30~13:40
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致歡迎詞
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駱韋仲 組長/電光所
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13:40~14:20
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功率模組技術－electric testing
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曾志銘 工程師/電光所
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14:20~15:00
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功率模組技術－thermal resistance testing
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韓偉國 工程師/電光所
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15:00~15:20
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Break
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15:20~16:00
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功率模組技術－reliability testing
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范榮昌 工程師/電光所
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16:00~16:40
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IGBT結構分析技術
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梁明況 博士/電光所
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16:40~17:00
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綜合討論
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